Semiconductor ディスコのウエハー厚さ校正、国際相互承認の証明書を発行可能に ウエハー厚さ測定に関わる校正で、国際相互承認に対応する証明書の発行が可能になった。ディスコの桑畑ラボラトリが認定を取得し、非接触の厚さ測定器と校… 2025.06.04