Semiconductor パワー半導体試験装置MTe、最大10 kAの短絡試験に対応 最大10 kAの動的・短絡試験と、複数デバイスの並列試験に対応するパワー半導体向け試験基盤MTeの提供が始まった。モジュール式ハードウェアと分散… 2025.11.01