空冷半導体試験装置T2000 AiR2Xは、低消費電力と空冷の要件を維持しながら、従来機の2倍の試験リソースを備える。最大12個の測定モジュールに対応し、既存T2000のプログラム環境を引き継ぐ。アドバンテストは初期デバイス評価を進め、2025年12月中の一般提供を予定している。
空冷の要件を維持して試験リソースを倍増
半導体試験装置メーカーのアドバンテストが開発したT2000 AiR2Xは、評価と多品種少量生産を対象とする空冷装置だ。アドバンテストによると、低消費電力と空冷の要件を維持しながら、従来の空冷装置T2000 AiRに対して試験リソースを2倍にした。
拡張した装置には、最大12個の測定モジュールを組み込むことができる。その測定構成は、機能・SCAN試験、高精度DC試験、最大320 Vの車載デバイス向けDC試験に対応する。
試験用ボードと量産向け制御を組み合わせる
測定構成を支える試験用ボードには、T2000 RECT550を採用した。このボードは多様な構成に対応する。
量産時の試験にはマルチサイトコントローラー機能を備える。アドバンテストは、この機能によって試験時間を短縮するとしている。
既存のプログラム環境を引き継ぐ
ハードウェアの試験リソースを拡張する一方、T2000 AiR2Xは従来の半導体試験システムT2000と完全互換とし、同じプログラム環境を採用した。新装置でも既存のプログラム環境を使うことができる。
プログラム作成とデバッグには、開発キットRapid Development Kit（RDK）を用いる。アドバンテストは、RDKがこれらの作業を減らし、プラットフォーム移行と導入の期間短縮に寄与するとしている。
初期評価で産業用・車載向けICへの適用を確認
アドバンテストは、進行中の初期デバイス評価で、産業用MCUと民生用ASICへの適用範囲を確認しているとしている。評価対象は、車載・モバイル機器向けのバッテリー監視ICやパワーアナログ用途にも及ぶ。
これらの初期評価を進めるT2000 AiR2Xは、2025年12月中に一般提供を開始する予定だ。