Semiconductor
半導体テスト開発に量産装置と互換のベンチ環境
半導体の量産テスト装置と同じファイル形式・実行動作を使うベンチ環境が、テストを考慮した設計を担うDFT設計者向けに発表された。アドバンテストの半…
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アドバンテスト
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半導体テスト装置V93000に設計データからのテスト生成を統合
半導体の設計ファイルをテスト装置へ直接入力し、テストパターンの生成と検証につなぐソフトウェア統合が進んだ。アドバンテストは、半導体テスト装置V9…
Semiconductor
空冷半導体試験装置T2000 AiR2X、従来機比で試験リソース2倍
空冷半導体試験装置T2000 AiR2Xは、低消費電力と空冷の要件を維持しながら、従来機の2倍の試験リソースを備える。最大12個の測定モジュール…
Semiconductor
自己発熱するメモリーの試験温度を安定させる新型ハンドラー
メモリー試験用ハンドラーM5241は、自己発熱の大きいICに対応する温度制御と、配置異常の検出に連動する自動復旧機能を備える。試験装置と組み合わ…
Semiconductor
パワー半導体試験装置MTe、最大10 kAの短絡試験に対応
最大10 kAの動的・短絡試験と、複数デバイスの並列試験に対応するパワー半導体向け試験基盤MTeの提供が始まった。モジュール式ハードウェアと分散…
Semiconductor
半導体試験装置のカードを自動切り替えする電力管理ソフト
半導体試験装置の使用状況に合わせ、テストカードを自動で有効・無効に切り替える電力管理ソフトウェアAPOSの提供が始まった。V93000を対象に、…